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日米独比較2 - (2006/10/11 (水) 16:39:12) のソース

||米国|日本||
|均等論侵害の基本的考え方|イ号とクレームの差が非実質的|イ号が実質的に同一のものとして容易に推考できる。||
|判断基準|三要素（機能・方法・結果）テスト|相違点が本質的部分ではない||
||既知の代替可能性|置き換えても同一目的、同一効果を達成する。||
||詳細はＣＡＦＣに依存|置き換えが容易||
|適用時期|侵害時|侵害時||
|適用基準|原則|例外||
|判断者|陪審員（又は判事）|判事||
|適用技術|主として特許出願後に開発された新しい技術|左記の新技術にまで適用されるかは不明|
|適用外|公知技術ないしその些細あるいは自明な変更|公知技術ないしそれから容易|
||仮想クレームが自明（容易)|||
|エスペットル|特許性のためにクレームが減縮された場合、除かれた主題には均等論は働かないが、それ以外の主題は特許権者が除外しなかったことを立証しなければならない。|イ号が特許請求の範囲から意識的に除外されていないこと。||
|その他の考察事項|特許査定後でも2年以内であれば再発行でクレームを拡大できるので、均等論でクレームを拡大できる背景を与えているともいえよう。|特許査定後（以前は公告後）はクレームの拡大は一切ない。|