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電気電子工学実験 > 3 > 半導体デバイスの実験

役に立つ参考文献

シリコンにおけるキャリア移動度の標準値

松葉博則, "電気電子材料", 東京電機大学出版局 : p.60



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最終更新：2007年12月31日 19:25