forum/Rits - 回折スペクトロスコピー考：Diffraction Spectroscopy in silico lab.

Rits-DIANAに関するdiscussionの場です。

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• ビームラインのTMPが停止し交換しました。 -- matui (2009-12-07 21:34:21)
• Cu(111)のデータ：滝沢さんが関西薄膜・表面物理セミナーで発表されました。 -- matui (2009-12-07 21:33:53)
• 順調に稼働中。
  SiC上のgraphene膜のバンド分散を測定しています。 -- matui (2009-07-06 20:44:45)
• 昨日に引き続き作業。
  蛍光板を外し前面パネルを除去、メイングリッドを外しました。0.5mm程度のゴミの塊が下に付着。これが歪みの原因だったのかもしれません。
  余計な開口部や隙間を埋めるつぎはぎを作成。
  磁化を色々と調べた結果モータからのジョイント部が大きく磁化している（2000mGauss以上）であったことが判明。少し分光器から遠いということで今回は放置です。
  ひとまず元に戻し作業を終えました。
  モータの駆動を確認後真空引きしベークです。
  結果が楽しみ。 -- matui (2009-04-17 23:53:53)
• 16日、main chamberをパージし底フランジを開けました。
  分析器の後面ミューメタルシールドとMCPユニットを外しました。
  アパチャーのギアの磁化と隙間からの迷光（電子）の混入の可能性を見つけました。 -- matui (2009-04-17 09:29:38)
• 本日と明日、DIANAの調整に行く予定です。 -- matui (2009-04-16 09:43:57)
• graphiteのvalence band測定を例に
  データ処理についてまとめます。
  （松下さんのソフトTmCoCa Ver 2.0.76の機能を駆使しました。）
  
  添付した画像は
  処理後のPIAD　運動エネルギー42.0 eVから1.0 eVまでの42枚
  KGMK分散図
  基にしたデータ列A：
  1月15日測定
  kish graphite　42.0 eV-0.0 eV step 0.5 eV retarding 0.6 eV
  85 point 1枚当たりの溜め込み時間：（60 secでしたっけ？）
  光エネルギー46 eV?(1月21日に二次光で評価した光エネルギーの値を教えてくだ
  さい。)
  
  作業記録：（手順は一部入れ替えても可）
  １．Fermi面よりも上でgraphiteの信号のないデータ(EK 42.0と41.5 eV)の平均
  値パターンBを作る
  >OneImage>Formulaで
  ２．データ列AからパターンBを引き、データ列Cとする。
  >SeriesOfImage>Operate by Imageで
  ３．データ列Cの平均パターンDをつくる
  >SeriesOfImage>Add/Average All Image
  ４．データ列CをパターンDで割り、データ列Eとする
  >SeriesOfImage>Operate by Imageで
  ５．Fermi準位付近40.5 eVのパターンを用い、DIANAの座標系を決定する。
  >Diana>Edit diana regionで
  パラメータ 54deg screen center(350,312) screen size (287) [001]
  (344,301) phi=0 (500,297)
  ６．データ列Eを角度空間に座標変換しデータ列Fとする。
  >Diana>Edit diana regionで
  角度分解能0.5deg
  ７．データ列Fを閾値0で二値化したデータ列Gをつくる。
  >SeriesOfImage>Binarize Imageで
  ８．データ列Fとデータ列Gを掛け、負の値を除去し、データ列Hとする。
  >SeriesOfImage>Operate by Imageで
  ９．データ列Hの左右反転データを作り、データ列Iとする。
  >SeriesOfImage>Flip Imageで
  １０．データ列Hとデータ列Iを足し、データ列Jとする。
  >SeriesOfImage>Operate by Imageで
  １１．データ列Jの上下反転データを作り、データ列Kとする。
  >SeriesOfImage>Flip Imageで
  １２．データ列Jとデータ列Kを足し、データ列Lとする。
  >SeriesOfImage>Operate by Imageで
  １３．データ列Lの各パターンを前後計20枚の平均値パターンで規格化する。
  <<ここが味噌>>
  >SeriesOfImage>Add/Average All Image
  >OneImage>Operate by Image
  >File>Save to File
  １４．上記で作成したファイル群をデータ列Mにまとめる。
  >SeriesOfImage>New SeriesOfImage
  １５．データ列Mの各パターンを波数空間に変換する。
  >Diana>K Space Mappingで
  >半径200pixels, 2.0 Ang-1とした。
  １６．上記で作成したファイル群をデータ列Nにまとめる。
  >SeriesOfImage>New SeriesOfImage
  >SeriesOfImage>選択領域のイメージを並べる　を使いGraphitePIAD.bmpを作成
  画像は25%にして。
  １７．Regionタブを選択し、線分(348,285)-(200,200)を引く。KG分散に対応。
  >Window>Line Profileを選択するとKG方向の強度分布のグラフが得られる。
  >Line>ChangeLineWidthで3から5に拡大した。
  >Graph>View on Graphを選択し、設問に対しNOと答えるとグラフウィンドウ
  にデータが表示される
  >Save this data to csvでデータを保存。
  １８．すべてのパターンに対し上記の操作を繰り返す。
  >線分(200,200)-(348,200)とすればGM分散
  >線分(348,200)-(348,285)とすればMK分散
  １９．Originでｃｓｖデータを並べなおし整理した。全数値群をcsvで保存。
  ２０．　MS EXELにデータ行列を貼り付け、EDC（energy distribution curve）ご
  とに強度を規格化する。
  ２１．>File>Open CSVで上記のデータを開くとKGMKの分散図が得られる。
  ２２．>Copy Image to Bitmap fileで画像を出力しGIMPで編集したのが添付ファ
  イルgraphite3.bmp -- matui (2009-01-27 20:50:36)
• 明日そちらに行くことを予定しています。
  大雪にならなければよいのですが。 -- matui (2009-01-14 20:47:19)
• Ni(111)のLEEDパターンが出たということで
  5日光電子パターンの測定に立会いにBL-7に行ってきました。
  EDCは問題なく取れているようです。
  21.2 eVあたりでBZのX点を通過。
  差分画像で「三回対称」の位置にピークが現れました。 -- matui (2008-12-09 10:24:23)
• 29日NAIST/GISTの学生さんの見学会と打ち合わせを兼ねてBL-7をたずねました。次回は12月5日を予定。試料バンクの図面を忘れないようにしなくては。 -- matui (2008-11-29 22:06:36)
• なかなか現場にいけていないですが、
  来週一度学生さんの見学を兼ねていこうかとも考えています。 -- matui (2008-11-20 21:13:57)
• 29日preparationの修理と実験の進行状況を相談しにBL7に行ってきました。放射光学会に向けて頑張りましょう。 -- matui (2008-10-04 23:26:21)
• G1(20ev-40eV)のグレーティングで52eVまで
  光を出して測定してみました。光の強度は強いです。
  umklappの特異点は分かりませんでした。
  
  ステップ面に必要なG2(7-20eV)で10eVの評価も行いましたが、
  ２次光および２次電子が多く１次部分がよく分かりませんでした。
  
  今週は金多結晶で分光器評価を行う予定でしたが、
  先ほど落雷のため停電（5回程度）でTMPが落ちました。
  現在真空度は４×10^-6Pa(排気40-50分程度)です。
  短時間のベークが必要かもしれません。
  
  
  
  
  -- shimozuma (2008-07-28 13:58:04)
• お疲れ様。
  高エネルギー側はエネルギー分解能の問題かもしれませんね。
  50 eVあたりで上下の点が消えるumklappの「特異点」が有るのですが。
  20 eV-30 eVのシャープに取れる領域があれば
  そこで溜め込み時間を5倍にしてlong scanをしましょう。 -- matui (2008-07-18 22:21:49)
• 今週はグレーティングを変えて測定を行っています。
  エネルギーが高い側では像ははっきりと見えていません。
  試料の位置もあわせ直しました。
  低いほうでは20eVでは比較的シャープに像がとれています。
  prepの作業は週末に行います。
  イオン銃がうまくいったら再ベークの予定です。 -- shimozuma (2008-07-18 19:33:26)
• 14日、作業を行います。
  ルーチンワークにもっていけたら、と思います。 -- matui (2008-07-14 12:52:47)
• 7月に入り1日、8日、11日と作業を行いました。
  1日はkish graphiteを試料ホルダに取り付け、
  8日は試料を分析槽に搬送・脱ガス
  11日はバンド測定までこぎつけました。 -- matui (2008-07-13 20:37:56)
• 次回、行けるとしたら19日です。
  SPring-8から帰ってきた当日17日という線もありますが。 -- matui (2008-06-12 07:41:53)
• 7日、報告会に出席します。 -- matui (2008-06-06 20:36:18)
• 23日の打合せログを残したいですね。 -- matui (2008-05-26 17:50:47)
• Arのリークバルブの件
  大事にならなかったようで。
  準備槽、追加ベークとのこと。
  23日に一度立命に行くことを予定しています。 -- matui (2008-05-20 23:51:43)
• 昨日mainとprepのbakingをはじめました。
  光源の方の赤外BLのミラー装着は順調のようで
  6月から光が使えるかも、とのことです。 -- matui (2008-05-08 16:17:35)
• 下妻さんがion gunの覆いの焼きだしに来学されます。 -- matui (2008-04-25 14:29:19)
• 報告書を二通提出しました。 -- matui (2008-04-21 20:50:12)
• nanonet報告書提出依頼が来ました。20日締切です。 -- matui (2008-04-10 23:27:33)

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• kish graphiteのsample holderを拾いにいきます。
  5月はHRでの作業に一時使うかも知れません。 -- matui (2008-04-10 11:38:42)
• 準備槽でのLEEDの写真を加工しました。

• 3/7の予定を本日に持ち越しました。
  久しぶりにきれいな価電子帯パターンを得ました！
  さすがはkish。
  ただしS1のモータの調子が変です。オフセットの値8.587から動かない。
  これは困りました。 -- matui (2008-03-12 20:38:08)
• レポートの提出日が7日だそうですが、
  実際無理です。来週末にずれ込みそうです。 -- matui (2008-03-06 17:35:16)
• BL-7に新しく滝沢さんが着任されることになりました。
  祝新メンバー！
  3/3-5の日程で立命に出向いてきました。引継ぎを行いました。
  3/7にも追加で出張る予定です。 -- matui (2008-03-06 17:34:08)
• 先月出した申請書のレポートの提出、下請けの仕事が回ってきました。リスト提出の期限は今日だそうですが…。 -- matui (2008-02-22 00:11:11)

投稿原稿予定リスト

　提出者氏名：大門寛（奈良先端大物質）BL-7
　Research Articles 6頁程度
　　題名（仮）：Real Space Mapping of Photoelectron Intensity Angular Distributions: crystal orientation and electronic structure of graphite surface
　　著者：N. Takahashi, F. Matsui, A. Tanaka, A. Shimotsuma, H. Namba, and H. Daimon
　Short Notes 2頁程度
　　題名(仮)：Improvements of Preparation chamber for Two-Dimensional Spectroscopy
　　著者：N. Takahashi, A. Shimotsuma, A. Tanaka, F. Matsui, H. Namba, and H. Daimon
Research Articlesでは高橋君がD論をベースに作成してくれています。Short NotesはLEEDでとったAg/Siの超構造の写真を中心に整備を進めている状況についてまとめようと考えています。SRとの関連で言えば、ヘルムホルツコイル導入の効果について文章で触れようかと思います。

• 申請書を出しました。
  １．Ag/Si(111)のUPS測定prepの整備。
  ２．graphiteのマッピング
  の2件です。
• 新年あけての利用運転は
  1/16からとの情報が入りました。
  準備槽でのLEEDの修理を年末年始に行います。 -- matui (2007-12-21 17:03:26)
• 放射光学会準備委員会に行ってきます。 -- matui (2007-12-20 11:07:35)
• 今週は光源の冷却水リークで停止中。
  年内の運転はなくなりました。 -- matui (2007-12-19 21:54:12)

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Rits SR Center BL -7 Status 2008.02.06

I. Beam line

...

A) Monochromator

0次光の合わせ方と1次光のcalibration
2006年秋が調整最後：そのときよりも強度が落ちている。

1. M0
不安定な状態：いつ再度調整を行うか？

2. S1
前後に平行移動する機構。光がどのようなパスを通っているかログを残す。エネルギーとスケールの大まかな関係の表も欲しい。

3. M1
Gratingの中央に当たるように調整。G5を使うために上下ができる機構になってはいるが、現在G5は使わないのでM1はそのまま。
4. G1-4

	energy range	line
G1
G2
G3
G4

5. S2
位置固定。幅とmicrometerの関係の表を。S1についても同じ。
6. Mf1 / Mf2

現時Mf1を使用。調整パラメータについてログを残す。

7. Sample position

best positionの写真を残すこと。

B) Interlock system

1. 非常時の設定と復帰法：

2. 電源系統図：

II. Analyzer

...

A) DIANA

1. 使用法の引継ぎが必要

B) Electron gun

1. 取り外している
2. 使用法

III. Preparation chamber

...

A) LEED optics

コレクタの配線の修理が必要。ヘルムホルツコイルで200 eV:3 uA、60 eV: 0.5 uA。トリアコートフィラメント目盛現在5.3。

B) 真空度：

まだリークがある可能性―――Q-Massのヘッドをメタルバルブの外側に取り付ける。現在、8x10E-7 Pa。Baseはもっとよくなるはず、ただしステップ面の研究には不十分なのでT字管（作成中）にTSPを取り付ける予定。

C) TMP（prepとロードロック）のグリースを補充した。

D) Ion gun：

碍子、洗浄。cover取り付け、Arタンク補充した。

E) Manipulator

配線の絶縁を補強した。

F) Transfer rodの微調整

chamberの位置変更で試みるがうまくいかず。根元にベローズを入れることに。

IV. Sample holder

...

A) Prepにシリコン

B) HRにkish graphite

V. Machine time

...

A) 2月Ni(111)?

B) 2/25以降

kish graphiteで追加実験、そこに滝沢さん、下妻さんに立ち会ってもらう方向で。

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